Imager.M2 operating manual
一、开机
1.打开电动载物台SMC2009开关;
2.打开显微镜Power Supply开关和显微镜机身左侧开关按钮;
3.若观察荧光,打开荧光激发光源X-cite的电源开关,显示屏显示累计使用时间,可根据
需要自行调节其上的激发光强度档位。注意开关间隔不小于30min。
二、观察方式
(一)透射光(TL)观察(光源:HAL)
1.明场观察
1)将聚光镜下方圆形转盘拨到"BF"处,并将物镜上方的荧光滤块转盘(触控屏界面)
调至DIC位;
2)将机身右侧TL按钮打开或触控屏TL点击On,适当调节其下方旋钮至合适光强;(前
2步中电动元件可以直接利用软件界面下的快捷键BF完成)
3)选择合适物镜观察样本,聚焦并调至视野中央。
2.微分干涉(DIC)观察
首先确认哪一个物镜配置了DIC:物镜上方插槽中是否插入DIC棱镜。
1)将聚光镜下方圆形转盘拨到匹配的"Ⅱ/Ⅲ"处(标记的2或3),并将物镜上方的荧光
滤块转盘(触控屏界面)调至DIC位;
2)将机身右侧TL按钮打开或触控屏TL点击On,适当调节其下方旋钮至合适光强;(前
2步中电动元件可以直接利用软件界面下的快捷键BF完成)
3)选择合适物镜观察样本,聚焦并调至视野中央。
(二)反射光/荧光(RL)观察(光源:X-cite)
1)根据样品的荧光染料类型,选择物镜上方荧光滤块转盘中对应的染料名称;
2)将机身右侧RL按钮打开或触控屏RL点击On,TL关闭;
前2步可直接利用软件界面下的染料快捷键DAPI/GFP/Rhod完成。
3)选择合适物镜观察样本,聚焦并调至视野中央。
三、图像采集
将显微镜上方拉杆调至相机采集档位,双击桌面“ZEN ”蓝图标,打开软件。(一)单张图片采集
1.在界面下,点击进行图像预览,点击或者展开
下方蓝对话框,在一项中选择进行自动测光,也可以手动输入曝光时间或者移动滑块调节;(可将图像下方菜单中前打勾以作曝光时间参考,红代表过曝的点,注意如果荧光图片需要强度测量请保证图片不要过曝光。)
2.预览速度一般选择slow,并选择合适的;
3.若选择相机的模式,需要调节白平衡,有两种方法:1将视野移至空白区域或将
样品移出光路,点击Automatic进行自动白平衡或者2好视野后,先点击,然后点击,将鼠标移至预览图片上,此时鼠标变成采样符号,点击图片中的非样品区域,完成手动白平衡;推荐拍摄荧光图片选择相机B/W模式,此模式下不需调节白平衡。
4.点击完成拍图。
若为黑白模式MRm拍摄的荧光图像,在拍摄好的图片下方的菜单下展开
框,选择中相应的颜。
(二)多通道图片采集
界面下已设好几个常用设置选项,请依需选择。
如不使用上述预设的实验设置方案,请选择,设计通道类型,点击,通道添加成功后将在将在窗口下显示。
1、点击进行预览,在下选择要预览的染料行,此行将高亮展示,
拖动下方进行曝光时间的调节(在预览图片下方的窗口下打勾,此时图片过曝的地方将以红指示,一般调节到刚要有红点显示即可),依次手动调节好各通道曝光
时间后,去掉勾,在要拍的通道前打勾(如需修
开机不显示桌面改颜,展开后方选择颜),点击完成拍图;
2、相机其他参数调节如白平衡等在窗口下,按照前面所说的单张
图片采集方法完成调节即可。
(注意:各蓝对话框上的前面打勾,以使所有功能展示。)
(三)Z轴序列图片采集及景深扩展
1.按(二)多通道图片采集方法调节好各通道参数;
2.前打勾,展开对话框,界面下live过程中
通过调细焦调节旋钮,分别定义样品的上限和下限,到达上/下限后分别点击
/ ,代表层数,代表Z轴的步进(层与层的间隔),一般选择,完成设置;
3.结束预览,点击,完成Z轴序列图片采集;
4.完成采集后,进入界面,对话框中
,对话框中选择,
选择。对话框默认加入当前打开
窗口图片(也可点击输入图片上的箭头更改图片);
5.点击完成景深扩展。
(四)自动拼图和多点采集
1.界面下按单张/多张图片采集方法设好拍摄参数后,将打勾,展
开,点击
,进入预览界面,下方设置规格,点击添加到预览图片中,根据实时预览图片,调整
的大小,直至完成目标区域的预览,点击
进行拼图。
2.拼图完成后,要进行处理。界面下,展开,选择
--,展开,选择,打勾,其他参数一般为默认;
3.展开框确认输入图片是否为待处理图片,点击完成处理。
4.拼图完毕若要进行图片的剪裁,展开图片下方窗口,选择感兴趣区域后
右键选择,生成ROI图片。
由于拼图需要对载物台和相机的相对位置进行精确校正,所以在显微镜操作过程中不要碰撞载物台和随意拧动相机)
(各蓝对话框上的前面打勾,以使所有功能展示。)
注意:各通道请使用同一相机模式拍图,也不能将不同相机拍摄的同一视野图片进行
merge,因为信息不同导致加标尺或merge错误。
(五)多点采集
1.界面下按单张/多张图片采集方法设好拍摄参数后,将打勾,展
开,展开,移动载物台选择添加所需要采集视野的坐标;
2.点击进行多点采集。
(四)和(五)可以一起设定,在一个实验流程中完成拼图和多点的采集。
(六)Z轴序列+拼图
1.进入软件界面,将和打勾;
2.选择低倍物镜,先按照(一)单张/多张图片采集方法设好拍摄参数后,展开
对话框,在其界面下设定样品的上下限;
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