手机Run In Test测试方案
手机Run in test测试方案
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Huawei Technologies Co., Ltd. ............................................................................. 错误!未定义书签。Revision record 修订记录 (2)
Figure List 图目录 (5)
Keywords 关键词：线上老化、器件自判定 (6)
1Introduction 简介 (7)
1.1Scope 范围 (7)
1.2Define 定义 (7)
1.3Purpose 目的 (7)
1.3.1产品失效周期分布特点 (7)木地板十大品牌排名
1.3.2Run in test目的 (8)
2应用场景 (8)
2.1中长期老化测试 (8)
2.2线上老化测试 (8)
3参考架构 (8)
3.1总体方案简介 (8)
3.2软件架构 (9)
3.3装备测试流程 (9)
4器件失效分析 (10)
4.1器件失效占比分析 (10)
4.1.1EWP故障分析 (10)
4.1.2测试器件列表 (10)
4.1.3故障原因分析 (11)
4.2测试条件分析 (15)
4.2.1Run in test局限性 (15)
4.2.2器件自判定要求 (15)
5硬件测试方法 (15)
5.1音频模块 (15)
5.1.1测试环境要求 (15)
5.1.2测试方法 (16)
5.1.3故障自判定方法 (16)
5.2显示模块 (19)
5.2.1测试目的 (19)
5.2.2测试方案思路 (19)
5.2.3测试方案和方法 (20)
5.2.4检测方案 (20)
5.2.5测试结果判定 (21)
5.3射频模块 (21)
5.3.1测试要求 (21)
5.3.2测试方法 (21)
5.3.3自判定方法 (22)
5.4Camera模块 (22)
5.4.1测试方法 (22)宝丰酒价格
5.4.2测试要求 (23)
5.4.3自判定方法 (23)注册监理工程师报考条件
5.5Sensor模块 (23)
5.5.1测试方法 (23)
5.5.2自判定方法 (24)
5.6马达模块 (25)
5.7系统模块 (25)
6软件功能测试 (27)
6.1休眠唤醒测试 (27)
6.1.1测试目的 (27)
6.1.2测试方法 (27)
6.1.3测试判定 (27)
6.2功能打开关闭 (27)
6.2.1测试方法 (27)
5月1日放假多少天
6.2.2判定方法 (27)
7电路/环回测试 (28)
7.1充电电路测试 (28)
7.1.1测试要求 (28)
7.1.2测试方法 (28)
7.2PM供电电路测试 (28)
7.3环回测试相关 (28)
7.3.1语音环回 (28)
7.3.2数据环回 (28)
7.4调压测试 (28)
8背景应力测试 (29)
8.1可执行背景应力列表 (29)
8.2马达振动背景应力 (29)
8.2.1马达振动要求 (29)
8.2.2寿命影响说明 (29)
8.3自发热温循 (29)
8.3.1温循方式 (29)
8.3.2温度上升曲线（CPU高负载） (30)
8.3.3温度下降曲线（CPU低负载） (30)
8.3.4目前实现的效果 (31)
8.3.5总体温度循环架构 (31)
9日志采集系统 (32)
9.1日志记录 (32)
9.1日志导出和上传 (32)
10附件32
Figure List 图目录
图1产品失效分布特点Chart (7)
图2测试方案结构图 (8)
图3音频自判定结构图 (16)
图4射频测试结构图 (22)
图5C amera测试结构图 (23)
图6反复访问外围端口图 (26)
新婚姻法 婚后房产图7多核CPU满负荷测试示意图 (26)
图8F lash并行测试图 (26)

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