千分尺(MICROMETERS) | |
1.概述
千分尺是应用螺旋副传动原理,将回转运动变为直线运动的一种量具,主要用来测量各种外尺寸。千分尺是由尺架、测砧、测微螺杆、测力装置和锁紧装置等组成。
千分尺已实施出口质量许可制度,未取得出口质量许可证的产品不准出口。
2.检定的条件
检定千分尺的室内温度及被检定千分尺在室内平衡温度的时间应符合表6—10—30的规定。
表6—10—30检定千分尺的温度要求 | |||
受检千分尺测量范围 (mm) | 室内温度对20℃的允许偏差(℃) | 平衡温度的时间(h) | |
千分尺 | 校对用的量杆 | ||
~100 | dnf疲劳值±5 | ±3 | 2 |
>100~500 | ±4 | ±2 | 3 |
3.千分尺的检验项目、技术要求
(1)外观:
①千分尺及其校对用的量杆不应有碰伤、锈蚀、带磁或其他缺陷,刻线应清晰、均匀。
②千分尺应附有调整零位的工件,测量上限大于25mm的千分尺应附有校对用的量杆。
③千分尺上应标有分度值、测量范围、制造厂名(或厂标)及出厂编号。
(2)各部分的相互作用:
①微分筒转动和测微螺杆的移动应平稳无卡滞现象。
②可调或可换测砧的调整或装卸应顺畅,作用要可靠,锁紧装置的作用应切实有效。
③带有表盘的千分尺,表针移动应灵活、无卡滞现象。
(3)测微螺杆的轴向串动和径向摆动:测微螺杆的轴向串动和径向摆动均不大于0.01mm。
(4)测砧与测微螺杆工作面相对偏移:千分尺测砧与测微螺杆工作面的相对偏移量应不大于表6—10—31规定。
表6—10—31测砧与测微螺杆工作面的相对偏移量 | |
测量范围(mm) | 测砧与测微螺杆工作面的相对偏移量(mm) |
0-25 | 0.1 |
25-50 | 0.15 |
50-75 | 0.2 |
75-100 | 0.3 |
100-200 | 0.4 |
200-300 | 0.5 |
300-400 | 192.168.1 0.8 |
400-500 | 1.0 |
(5)测力:千分尺的测力(系指工作面与球面接触时所作用的力)应在6N-10N范围内。
(6)刻线宽度及宽度差:固定套管纵刻线和微分筒上的刻线宽度为0.15-0.20mm,刻线宽度差应不大于0.03mm,刻线盘的刻线宽度为0.20-0.30mm,刻线宽度差应不大于0.05mm。
(7)指针与刻度盘相对位置:板厚千分尺刻度盘上的指针末端应盖住刻线盘短刻线长度的30-80%,指针末端上表面至刻度盘表面的距离应不大于0.7mm。指针末端与刻度盘刻线的宽度应一致,差值应不大于0.05mm。
(8)微分筒锥面的端面棱边至固定套管刻线面的距离:微分筒锥面的端面棱边至固定套管刻线面的距离应不大于0.4mm。
(9)微分筒锥面的端面与固定套管毫米刻线的相对位置:当测量下限调整正确后,微分筒上的零刻线与固定套管纵刻线对准时,微分筒的端面与固定套管毫米刻线右边缘应相切,若不相切,压线应不大于0.05mm,离线应不大于0.1mm。
(10)工作面的表面粗糙度:
①外径千分尺和校对量杆的工作面的表面粗造度Ra应不大于0.05μm。
②壁厚、板厚千分尺工作面的表面粗糙度Ra应不大于0.10μm。
(11)工作面的平面度:零级外径千分尺工作面的平面度不大于0.6未来可期的正能量句子μm,1级外径千分尺工作面的平面度不大于1μm。壁厚千分尺测微螺杆工作面的平面度应不大于1.2μm,板厚千分尺工作面的平面度应不大于1μm。
(12)工作面的平行度:当外径千分尺锁紧装置紧固与松开时千分尺两工作面的平行度应不大于表6—10—32规定。板厚千分尺工作面的平行度应不大于2μm。
表6—10—32两工作面平行度 | ||
测量范围(mm) | 平行度(μm) | |
0级 | 1级 | |
0-25 | 1 | 2 |
25-50 | 1.3 | 2.5 |
50-100 | 1.5 | 3 |
100-150 | — | 4 |
150-200 | — | 6 |
200-300 | — | 7 |
300-400 | — | 8 |
400-500 | — | 10 |
(13)示值误差:外径千分尺的示值误差应不超过表6—10—33中的规定。板厚、壁厚千分尺的示值误差不超过±4μm。
表6—10—33外径千分尺示值误差 | ||
测量范围(mm) | 示值误差(μm) | |
0级 | 1级 | |
0-100 | ±2 | ±4 |
100-150 | — | ±5 背景视频 |
150-200 | — | ±6 |
200-300 | — | ±7 |
300-400 | — | ±8 |
400-500 | — | ±中国新说唱202010 |
(14)校对用的量杆:校对用的量杆尺寸偏差和两工作面的平行度应不超过表6—10—34中的规定。
表6—10—34校对用的量杆尺寸偏差和两工作的平行度 | |||
校对用的量杆的标称尺寸 (mm) | 尺寸偏差(μm) | 工作面的平行度 (μm) | |
0级 | 1级 | ||
25 | ±1 | ±2 | 1 |
50 | ±1.5 | ±2 | 1 |
75 | ±1.5 | ±2 | 1.5 |
100-125 | ±2.5 | 2 | |
150-175 | ±3 | 2.5 | |
200-225 | ±3.5 | 3.5 | |
250-275 | ±3.5 | 3.5 | |
325-375 | ±4 | 4 | |
425-475 | ±5 | 5 | |
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