功率铁氧体磁芯
常用功率铁氧体材料牌号技术参数
EI型磁芯规格及参数
PQ型磁芯规格及参数
EE型磁芯规格及参数
他笑了作文500字EC、EER型磁芯规格及参数
1，磁芯向有效截面积：Ae
2，磁芯向有效磁路长度：le
3，相对幅值磁导率：μa
4，饱和磁通密度：Bs
蚕茧如何抽丝1 磁芯损耗：正弦波与矩形波比较
一般情况下，磁芯损耗曲线是按正弦波+/-交流<AC>激励绘制的，在标准的和正常的时候，是不提供极大值曲线的。涉及到开关电源电路设计的一个共同问题是正弦波和矩形波激励的磁芯损耗的关系。对于高电阻率的磁性材料如类似铁氧体，正弦波和矩形波产生的损耗几乎是相等的，但矩形波的损耗稍微小一些。材料中存在高的涡流损耗〔如大型叠片式或大型切割磁芯时，矩形波损耗是正弦波损耗的1/2~2/3。D.Y.Chen提供的参考资料解释了这种现象。
一般情况下，具有矩形波的磁芯损耗比具有正弦波的磁芯损耗低一些。但在元件存在铜损的情况下，这是不正确的。在变压器中，用矩形波激励时的铜损远远大于用正弦波激励时的铜损。高频元件的损耗在铜损方面显得更多，集肤效应损耗比矩形波激励磁芯的损耗给人们的印象更深刻。举个例子，在20kHz、用17#美国线规导线的绕组时，矩形
波激励的磁芯损耗几乎是正弦波激励磁芯损耗的两倍。例如，对于许多开关电源来说，具有矩形波激励磁芯的5V、20A和30A输出的电源，必须采用多股绞线或利兹<Litz>线绕制线圈，不能使用粗的单股导线。
2 Q值曲线
所有磁性材料制造厂商公布的Q值曲线都是低损耗滤波器用材料的典型曲线。这些测试参数通常是用置于磁芯上的最适用的绕组完成的。对于罐形磁芯,Q值曲线指出了用作生成曲线时的绕组匝数和导线
尺寸，导线是常用的利兹线，并且绕满在线圈骨架上。
对于钼坡莫合金磁粉芯同样是正确的。用最适合的绕组，并且导线绕满了磁芯窗口时测试，则Q值曲线是标准的。Q值曲线是在典型值为5高斯或更低的低交流<AC>激励电平下测量得出的。由于在磁通密度越高时磁芯的损耗越大，故人们警告，在滤波电感器工作在高磁通密度时，磁芯的Q值是较低的。
3 电感量、AL系数和磁导率在正常情况下，磁芯制造厂商会发布电感器和滤波器磁芯的AL系数、电感量和磁导率等参数。这些AL的极限值建立在初始磁导率范围或者低磁通密度的基础上。对于测试AL系数，这是很重要的，测试AL系数是在低磁通密度下实施的。
某些质量管理引入检验部门，希望由他们用几匝绕组检查磁芯，并用不能控制频率或激励电压的数字电桥测试磁芯。几乎毫不例外，以几百高斯、若干千高斯<kG>、甚至使磁芯饱和的磁通密度的电压激励磁芯时，该电桥是平衡的。使用这些存在很少匝数的
橘搭配电桥对不开气隙的磁芯进行初始磁导率测量是不合适的。小学语文教师工作总结
另外一种现象发生在测量低磁导率磁芯，诸如测量具有很少匝数的钼坡莫合金磁芯时，在很低电感量〔如1mH或更低时，即不再应用AL的方程式。由于邻近的线匝有通过空气隙偶合的情况，所以，所得
鼓舞的反义词的测试值呈现出正公差。例如，在一个10μH的电感器中，磁芯的AL存在超过20%的正误差是人们所希望的。这同样地是基于很少匝数的原因。然而，如果电感器上的线匝是集总的，则其误差会变得更加恶劣。通常情况下，在开展低磁导率磁芯的检测时，人们将会在磁芯上绕置足够的线匝以获得超过100μH的电感量，以便有效地预防正误差。
其它的误差发生在测量磁芯电感系数过程中，具体地说，那些误差存在于大的空气隙，包括绕满了线匝的骨架中。1000AL时气隙最小,100AL时具有最大气隙。在图中可见，如果线圈骨架上没有被绕满，一个负的测量误差将形成。在100AL时，骨架上仅绕满了20%的线匝，这将存在大约-7%的误差。罐形磁芯可保证正常的±3%的公差。因此，检验AL值时，骨架上应该绕满线匝。也就是说，测量电感值时应该在远远低于自谐振频率时进行。
山水风光的古诗4 直流偏置
关于磁导率与直流偏置关系的曲线，制造厂商提供的数据是在室温下和假设低电平交流激励电压叠加在直流电压上的典型值。增大交流激励电平将引起磁芯的磁导率更快速滚离。具体地对铁氧体磁芯而言，在较高温度时，在较低磁场强度时产生的磁导率滚离要低于室温时产生的滚离。在其它方面，钼坡莫合金磁芯磁导率的变化没有大于高温
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