平面度与光波带的条数关系
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平晶-正文
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具有两个（或一个）光学测量平面的正圆柱形或长方形的。光学测量平面是数值和平面度误差都极小的玻璃平面，它能够产生光波干涉条纹（见）。平晶有平面平晶和平行平晶两种。平面平晶用于测量高光洁表面的平面度误差，图1a为用平面平晶检验测量面的平面度误差。平行平晶的两个光学测量平面是相互平行的，用于测量两高光洁表面的平行度误差，例如两测量面的平行度误差（图1b）。平晶用光学玻璃或石英玻璃制造。圆柱形平面平晶的直径通常为45～150毫米。其光学测量平面的平面度误差为:1级精度的为～微米；2级精度的为微米。常见的长方形平面平晶的有效长度一般为200毫米。
平晶
平晶
平晶是利用光波干涉现象测量平面度误差的，故其测量方法称为平晶干涉法（图2），也称技术光波干涉法。测量时，把平晶放在被测表面上，且与被测表面形成一个很小的楔角θ，以单光源照射时会产生干涉条纹。干涉条纹的位置与光线的入射角有关。如入射光线垂直于被测表面，且平晶与被测表面间的间隙很小，则由平晶测量面P反射的光线与被测表面反射的光线在测量面 P发
生干涉而出现明或暗的干涉条纹。若在白光下，则出现彩干涉条纹。如干涉条纹平直，相互平行，且分布均匀，则表示被测表面的平面度很好；如干涉条纹弯曲，则表示平面度不好。其误差值为，式中a为两干涉条纹间距离，b为干涉条纹的弯曲值,λ为光波波长，白光波长一般以微米计算。
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