测折射率：V棱镜法、阿贝折光仪、最小偏向角法。
平行光管调校：可调前置镜法（低）、自准直法（高斯阿贝双分划）、五棱镜法（高）。
双折射率：全波片法、四分之一波片法。
球面曲率半径：机械法、自准直球径仪法、自准望远镜测量。
折射率：v棱镜法、阿贝折光仪、最小偏向角法
积分球：提供光源、作为接收器
交前刀影同方向，交后刀影对面来，左明右暗是高地，右明左暗是低谷
光学传递函数的定义方法：以点扩散函数定义、以余弦光栅成像定义、以光瞳函数表示。
光学测量：对光学材料、零件及系统的参数和性能的测量。
调焦与对准：调焦是目标和比较标记沿瞄准轴方向重合或置中的过程，对准是在垂直于瞄准轴方向上目标和比较标记重合或置中的过程。
视度与视差：光学仪器出射光束的发散或会聚程度、无穷远目标与分划标记的视度只差。
分辨率：光学系统分辨物体细节的能力。
光学不平衡度：反射棱镜展开后，光线在出射面前时出射面法线的夹角，分为第一与第二光学不平衡度。
自准直目镜：一种自身带有照明及分划的目镜，常用的包括高斯、阿贝与双分划板自准直目镜。
测量误差及分类：测量值与真值之差，粗大、系统、偶然。
焦距与顶焦距：实际光学系统全孔径全光谱下实际汇聚能量最强的点为焦点，由最后一个面的顶点到焦点的距离。
透射比：通过光学系统透射光能量与入射光能量比值，分为白光投射比与针对某一波段的透射比。
应力双折射的衡量指标：以波长为598.3nm光波通过一厘米玻璃o光与e光所产生光程差表
示。
1比较V棱镜法、阿贝、最小偏向角的原理、精度、范围、优缺点？
V长春分类信息：一般测量范围n0=1.3~1.9.精度高 10-5 需标准块 单光源 折射液的折射率与试样的差值不大于0.015。
阿贝：精度低 10-4不需单光源 折射液的折射率小于试样的折射率，大于标准棱镜折射率被检件折射率必须大于标准块的折射率所以测量范围较小，但是可以测液体的折射率
最小 :测量范围不受限，精度最高5*10-6，不需标准块 单光源 试样制备时间长，最好做成等腰三角形，顶角在40~60之间。两个折射面要抛光。不用折射液。
2.为了提高定焦精度可以采取哪些措施，举例？
可以采取光电对准和定焦，将纵向调焦变换为横向对准，如半透镜定焦法。
利用人眼的体视锐度如立体视差仪定焦，利用人眼衬度灵敏度，如双星点定焦法。
3.在准直调校平行光管的方法中,如何判断哪个像是分划板自准直像？如何判断分划板在平行光管物镜焦面前后？在提高调校精度的方面可以采取哪些措施？
答：当调整平面反射镜时哪个像随着发生移动即为分划板自准像。可以通过摆头法判断，如果像与头同时发生移动时则分划板在焦面后，如果异向发生移动则分划板在焦面前。为了提高精度可以采用消视差法调焦。
4.在光学球径仪检测曲率半径方法中，测量环应该如何选取，被测曲率半径受哪些因素影响？在检测凹凸面曲率半径时其检测范围受什么因素制约？
答：应尽量选择半径r大的测量环，对减小测量标准偏差有利。夹持器座定位误差，刻尺刻线误差，投影度数误差，显微镜的两次调焦误差。检测凸面是还要求显微镜的工作距需要大于被测件曲率半径。
5.哈特曼法能测、不能测、为什么？
能测物镜的球差、位置差、彗差、场曲和像散。不能测畸变和倍率差，因为无法确定理想像高，也无法确定实际主光线在理想平面上的投射高度。
6.全波片法和四分之一波片法检测玻璃双折射时，作用机理的区别？
全波片法把仪器的测量基点移到最敏感区域，使微小光程差变化能引起干涉的显著变化，进而提高了灵敏度（改变光程差）。
四分之一波片法改变偏振态，利用测角的方式来测量玻璃的双折射，从而提高测量精度（改变相位差）半影检偏器代替普通检偏器课提高测量精度。
7.测量焦距有哪些方法？
放大倍率法：应用已知焦距与物体大小的平行光管检测被测透镜焦距，一般较适合正透镜焦距的测量
精密测角法：适合焦距较长需要精度较高透镜焦距的测量，应用经纬仪与测角仪即可根据正切法得出焦距大小。
附加接筒法：利用已知大小的两个接筒分别得出两次放大倍率，从而应用牛顿公式可以检测出非常短的正透镜的焦距。
附加透镜法：应用已知焦距的正透镜与被测透镜组和为望远系统，检测负透镜焦距的大小。
8.光学系统产生杂光的原因，危害？
叠加到像面不参与直接成像的有害光称为杂散光。由光学元件的反射和散射造成的杂光、机械部件的反射和散射造成的杂光、接收器造成的杂光。杂光的存在不仅减少参与成像光的能量，更直接影响画面对比度，导致画面彩陈旧
9.光学传递函数与星点检验 分辨率关系
光学传递函数与星点像的光强分布构成一对傅里叶变换关系，两者包含有完全等价的信息，只是分别用频域与空域来描述的。
OTF和分辨率都是以空间频率和调制强度来反映光学系统的空间滤波特性的，当降到接近人眼或者其他接收器的调制度阈值时，可连续分辨的最细一组光栅像所对应的空间频率f1就是分辨率，只有在系统的像差较大的时候，才会分辨率下降，可见分辨率只是反映截止频率附近的像质情况，及光学系统分辨细节的能力。
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