电子产品来料检验标准
陈芊芊
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文件编号:
  14 
文件名称:电子产品项目材料检验标准
适用范围:电子产品材料检验IQC工位
修  订  记  载
版次
更改说明和原因
拟制/日期
审核/日期
批准/日期
1.0
初版发布
艺术类高考
     
分发:
质量部(IQC、体系)
8  附录·······································································10
2目的:
提供电子产品项目材料及其附备件的检验标准。
3范围
本管理办法适用于电子产品项目材料检验。
4职责
质量部负责人负责本程序的组织实施。满清十二房
质量部终端检验工程师负责材料及附备件的检验及结果分析报告。
质量部材料检验员负责实施检验。
5定义
4.1 缺陷定义
非常严重缺陷(Critical):严重影响产品的使用性能,造成产品无法正常使用。
严重缺陷(Major):影响或降低产品的使用性能,或对预期目的造成严重影响的缺点。
轻微缺陷(Minor):不影响产品的使用性能或对预期目的不造成影响的缺点。
4.2抽样标准
抽样标准:每批抽样如未注明均按照标准GB/T 2828.1-2012,一般检验水平Ⅱ,正常检验一次抽样方案进行。抽样时要覆盖到零箱的物料。
4.3缺点度量代码
N
数目(个)
D
直径(mm)
L
长度(mm)
H
深度(mm)
W
宽度(mm)
J
间距(mm)
本兮因故离世S
面积(mm2)
   
4.4检验条件
在自然光或光照强度在300~600LX的近似自然光下(如40W荧光灯、距离800mm处),相距为400mm,观测时间为5秒/面,且检查者位于被检查表面的上方、视线与被检查面呈45°±15°进行正常检验。要求检验者的校正力不低于1.0。
6工作程序
5.1元器件
6.1.1R/L/C
a、核对每盘材料最小包装的料号、供应商名称、物料描述是否与BOM一致。
b、检查每盘包装是否合理,料带是否破损、变形,核对元件封装尺寸。
c、非满盘料到料,抽取1到3颗用HP4284/HP4285/HP4286检测R、C的R、C值,零故障接收。
6.1.2二、极管
a、核对每盘材料最小包装的料号、供应商名称、物料描述是否与BOM一致。
b、检查每盘包装是否合理,料带是否破损/变形、材料上可追溯标识明确。
c、发光二极管,根据来料的盘数,按照标准GB/T 2828.1-2012,一般检验水平Ⅱ,正常检验一次抽样方案进行,AQL=1.0抽检,每盘料抽检1-2pcs,在放大镜下观察该二极管的晶圆,并与封样进行核对比较,两者必须一致。(零故障接收)
6.1.3芯片
a、核对每盘材料最小包装的料号、供应商名称、物料描述是否与BOM一致。
b、检查每盘包装是否合理,料带是否破损/变形、材料上可追溯标识明确。
c、芯片外观无破损、变形 ,无污渍,印刷字迹清晰。
6.1.4印制板
a、核对材料最小包装的P/N,供应商料号,供应商名称描述是否与BOM一致。
b、包装是否合格,真空、防潮,包装外观无损(指最小包装)。
c、外观检查:尺寸及电性能检查均从一个最小包装中抽样。
1) 材料上可追溯标识明确。
2) 无压坏现象,板子无破损、折断、裁切不良。
3) 板面平整,板子弯曲变形度小于0.75%。弯曲变形度的测量:放置于大理石平台上,测其最大变形处翘起高度,除以板子对角线尺寸,算出变形度。每批次抽样5pcs,零故障接收。
4) 印刷线路清晰,无残留助焊剂、胶质、污渍、油渍,文字、标识清晰可辨;厂商检验合格之加盖油墨章,不应有扩散污染。外露金属部分无锈蚀,不得有短路、断路;焊点不得有翘起。
d、尺寸测量(包括共面性):用游标卡尺或投影仪检测其外观尺寸(共面性用塞规)。尺寸每批次抽取5pcs,0故障接收
6.2结构件
女孩网名优雅大气1.外观面AB多年以后C等级面定义:
根据使用者在正常使用中对整机产品各表面外观要求的重要程度,将产品的外观面分为 ABC 三种
等级面(部分机型示意图见附图):
A级面:在正常使用过程中使用者经常注意到的区域,这些表面具有较严格的外观要求。一般指组装于 整机产品正面或顶面的零部件外表面
B级面:在正常使用过程中使用者偶尔注意到的区域,这些表面要求次于A级面,一般指组装于整机产 品左右侧面的零部件外表面;
C级面:在正常使用过程中不受使用者关注的区域,此表面的外观要求又次于B级面,一般指组装于整 机产品背面或底面的零部件外表面
特别说明,对组装于整机产品内部的零部件,不作严格的外观要求
2.抽样计划:按照国标GB/T2828 (或等同标准),正常抽检水平,一次抽样,II类;
接受标准:AQLCri:不接受 Maj0.65

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