高度集成的μLED 显示技术研究进展
第41卷㊀第10期2020年10月
发㊀光㊀学㊀报
CHINESEJOURNALOFLUMINESCENCE
Vol 41
No 10
Oct.ꎬ2020
㊀㊀收稿日期:2020 ̄07 ̄03ꎻ修订日期:2020 ̄08 ̄04
㊀㊀基金项目:国家自然科学基金面上项目(11674016)ꎻ国家重点研发计划(2017YFB0403102)资助项目
SupportedbyNationalNaturalScienceFoundationofChina(11674016)ꎻNationalKeyR&DProgramofChina(2017YFB0403102)
文章编号:1000 ̄7032(2020)10 ̄1309 ̄09
高度集成的μLED显示技术研究进展
严子雯1ꎬ2ꎬ严㊀1ꎬ2ꎬ李典伦1ꎬ2ꎬ张永爱1ꎬ2ꎬ周雄图1ꎬ2ꎬ叶㊀芸1ꎬ2ꎬ郭太良1ꎬ2ꎬ孙㊀捷1ꎬ2∗
(1.福州大学物理与信息工程学院ꎬ福建福州㊀350108ꎻ
2.中国福建光电信息科学与技术创新实验室ꎬ福建福州㊀350117)
摘要:微型发光二极管(μLED)是当今国际最前沿的显示技术之一ꎬ它一般指单个尺寸小于50μm的LED
阵列ꎮμLED相对于液晶显示(LCD)㊁有机发光二极管(OLED)显示等技术有其独特的优势:寿命长㊁响应时间短㊁亮度高ꎮ最重要的是ꎬ它可以实现高度集成显示ꎬ既包括像素密度远远高于常规显示技术的高PPI显示器件ꎬ也包括我们首次提出的集成了某些非显示元件的超大规模集成半导体信息显示器件(HISID)ꎮ在许多显示技术的指标上ꎬμLED的性能都很优异ꎮ但是ꎬ由于μLED将常规LED器件的尺寸大大缩小ꎬ且往往密度提高ꎬ因此产生了许多新的技术和物理上的挑战ꎬ例如巨量转移技术㊁全彩化显示等ꎬ所以μLED尚未实现真正意义上的产业化ꎮ本文对高度集成μLED显示
技术的研究和发展情况进行了较系统的论述ꎬ首先对μLED的基本原理和结构进行了介绍ꎬ然后对其重点核心技术进行了分类研究和点评ꎬ最后对μLED显示技术的发展方向及其应用前景做出了分析ꎮ
关㊀键㊀词:微型发光二极管(μLED)ꎻ驱动ꎻ巨量转移ꎻ全彩化ꎻ高度集成中图分类号:TN312.8㊀㊀㊀文献标识码:A㊀㊀㊀DOI:10.37188/CJL.20200191
ResearchProgressofHighIntegrationDensityμLEDDisplayTechnology
YANZi ̄wen1ꎬ2ꎬYANQun1ꎬ2ꎬLIDian ̄lun1ꎬ2ꎬZHANGYong ̄ai1ꎬ2ꎬZHOUXiong ̄tu1ꎬ2ꎬ
YEYun1ꎬ2ꎬGUOTai ̄liang1ꎬ2ꎬSUNJie1ꎬ2∗
(1.CollegeofPhysicsandInformationEngineeringꎬFuzhouUniversityꎬFuzhou350108ꎬChinaꎻ
2.FujianScience&TechnologyInnovationLaboratoryforOptoelectronicInformationofChinaꎬFuzhou350117ꎬChina)
∗CorrespondingAuthorꎬE ̄mail:jie.sun@fzu.edu.cn
Abstract:Microlight ̄emittingdiode(μLED)isoneofthemostcutting ̄edgedisplaytechnologiesintheworld.ItgenerallyreferstotheLEDarraywithasinglemesasizelessthan50microns.Com ̄paredwithliquidcrystaldisplay(LCD)andorganiclightemittingdiode(OLED)displayꎬμLEDdisplaytechnologyhasitsuniqueadvantages:longlifetimeꎬshortresponsetimeꎬandhighbright ̄ness.Mostimportantlyꎬitenablestherealizationofhighlyintegrateddisplaysꎬwhichincludesbothhigh ̄PPIdisplayswithmuchhigherpixeldensitiesthanconventionaldisplaytechnologiesꎬandhigh ̄lyintegratedsemiconductorinformationdisplays(HISID)thathavebeenproposedfirstbyusandcontaincertainnon ̄displaycomponents.InmanyfiguresofmeritofdisplaytechnologyꎬμLEDspe
r ̄formexcellently.HoweverꎬasμLEDsgreatlyreducethesizeofconventionalLEDdevicesandtypi ̄callyhaveanincreaseddevicedensityꎬmanynewtechnicalandphysicalchallengeshavearisenꎬsuchasmasstransfertechnologyꎬfull ̄colordisplayꎬetc.ThereforeꎬμLEDshavenotyetachieved
1310㊀发㊀㊀光㊀㊀学㊀㊀报第41卷anyrealindustrialization.InthispaperꎬthehighlyintegratedμLEDdisplaytechnologyresearchandprogressaredescribedsystematically.FirstofallꎬthebasicprincipleandstructureofμLEDsarein ̄troducedꎬfollowedbytheclassificationandreviewofthekeytechnologies.FinallyꎬthedevelopmenttrendsandapplicationprospectsoftheμLEDdisplaytechnologyareanalyzed.
Keywords:microlight ̄emittingdiode(μLED)ꎻdriverꎻmasstransfertechnologyꎻcolorizationꎻhighinteg
rationdensity
1㊀引㊀㊀言
20世纪以来ꎬ随着信息时代的发展ꎬ显示技术逐渐进入人们的生活中ꎬ其应用领域覆盖从医疗㊁教育㊁娱乐到工业㊁军事㊁航空航天的方方面面ꎮ显示技术也从最初的阴极射线管(CRT)逐渐发展到如今的平板显示ꎮ液晶显示(LCD)和等离子显示(PDP)两种新的平板显示技术推出后ꎬ它们凭借节能㊁体积较小等优点ꎬ逐渐取代了占据显示市场数十年的CRTꎮ由于LCD不断降低成本和提高性能ꎬPDP在不久后失去了竞争力ꎬ但是LCD需要使用背光通过液晶矩阵发光产生图像ꎬ所以存在响应时间慢㊁转换效率低㊁均匀性差㊁彩饱和度低等缺点ꎮ近年来ꎬ新型显示技术逐渐发展起来ꎬ例如有机发光二极管(OLED)显示㊁发光二极管(LED)显示等ꎮ与LCD相比ꎬOLED显示是自发光显示ꎬ无需背光㊁视角宽㊁对比度高㊁省电㊁响应速度快㊁每个像素都可以独立控制ꎮ而且ꎬOLED的组成为固态结构ꎬ没有液态物质ꎬ抗机械振动性能更好ꎮ然而ꎬOLED显示屏寿命相对较短ꎬ加上彩纯度不够以及成本略高等因素ꎬOLED的市场占有率并未超过LCDꎮLED显示则较多用于大型户外显示屏ꎬ具有寿命长㊁功耗低㊁亮度高㊁彩饱和度高等优点ꎮ目前ꎬLED显示技术中ꎬ像素日趋微型化ꎮ越来越多的科研人员开始了关于微型LED(μLED)的研究[1 ̄13]ꎬ并将其视为下一代显示技术ꎮ
相比于LCD和OLEDꎬμLED具有很多优势ꎬ如效率高㊁耐候性好㊁寿命长㊁分辨率可以很高等
ꎬ更重要的是ꎬ它可以实现所谓 高度集成显示 ꎮ本文中ꎬ这一概念有两重含义ꎮ其一ꎬ由于μLED单个像素面积极小ꎬ因此可实现超高分辨率显示ꎻ其二ꎬ也可适当降低像素密度ꎬ而在其间隙处集成微传感器等非显示元素ꎬ与用户互动ꎮ这些都是传统技术很难实现的ꎮ但目前μLED尚未产业化ꎬ主要是因为μLED将LED器件尺寸缩小ꎬ且往往密度很高ꎬ所以许多新的技术挑战随之产生ꎬ如巨量转移技术和全彩化显示等ꎮ一方面ꎬ由于难以将驱动电路直接制备在μLED衬底上ꎬ因此需要将μLED器件从其衬底上转移并键合到互补金属氧化物半导体(CMOS)或薄膜晶体管(TFT)驱动电路衬底上ꎮ然而ꎬ转移的μLED尺寸小㊁数量多㊁需要精确对位且良率至少大于99.9999%ꎬ所以这种巨量转移是μLED公认的一个关键性技术ꎮ另一方面ꎬ由于在GaN上制备的红光μLED的效率比较低ꎬ所以实现全彩化显示也是μLED的一个重要技术难点ꎮ
本文主要介绍高度集成的μLED显示技术的研究现状ꎬ将结合我们的科研实践ꎬ分别从μLED显示技术的基本原理㊁结构与性能㊁驱动方式㊁重点技术等方面进行分析说明ꎬ最后介绍其最新市场应用ꎬ提出在显示领域有革命性意义的超大规模集成半导体信息显示器件(HISID)的理念ꎬ并加以评述ꎮ
2㊀μLED基本原理、结构与性能LED[14]是一种将电能转化为光能的电致发光器件ꎬ其核心结构是由半导体材料形成的PN结ꎮ当对LED施加正向电压时ꎬ通过电极从N区和P区分别向空间电荷区注入电子和空穴ꎬ并在结区复合发光ꎮμLED技术就是将LED微缩化和矩阵化ꎬ其发光单元尺寸在50μm以下ꎬ且较高密度地集成在芯片上ꎮμLED可以通过巨量转移的方式批量地转移到驱动电路
基板上ꎬ该基板可以为硬性或柔性㊁透明或不透明ꎮ然后ꎬ再利用物理气相沉积等方法在其上制备保护层和外接电极ꎬ并进行封装ꎮ
制备μLED的材料一般是GaN基半导体ꎮμLED主要由以下几部分组成:衬底㊁缓冲层㊁N型半导体㊁MQWs(多量子阱)㊁P型半导体以及电极ꎬ有些还有P ̄AlGaN电子阻挡层ꎮ为进一步提高性能ꎬ还可加入光栅㊁光子晶体㊁分布式布拉格
㊀第10期严子雯ꎬ等:高度集成的μLED显示技术研究进展1311
㊀反射镜(DBR)等附加结构ꎮμLED芯片的结构主要分为正装结构㊁倒装结构㊁垂直结构等ꎮ如图1(a)所示ꎬ正装结构较为简单且易于加工ꎬ但是由于顶部需要制备电极因而使得出光面积减少ꎬ
且散热性能较差ꎻ倒装结构如图1(b)所示ꎬ相比较于正装结构ꎬ光提取效率更高ꎬ器件的散热性能㊁可靠性和寿命也都得到了提高ꎮ
P 鄄
武(打一字)
G a N M Q W s N 鄄G a N
U 鄄G a N
蓝宝石
电极凸点
(a )
荷花的诗
(b )
I T O P 鄄GaN MQWs
电极
U 鄄G a N 图1㊀(a)μLED正装结构ꎻ(b)μLED倒装结构ꎮFig.1㊀(a)Structureofface ̄uppackagedμLED.(b)Struc ̄
tureofflip ̄chippackagedμLED.
3㊀μLED显示的驱动
国际名牌包包
μLED的驱动方式主要有两种模式:无源寻
址驱动和有源寻址驱动ꎮ
3.1㊀无源寻址驱动(PM)
无源寻址驱动
[15]
是指在μLED阵列中使用
金属连线分别将每列像素阳极相连ꎬ每行像素阴极相连ꎬ由外加行列控制器对行列电极进行动态
Data current source
Scan driver
图2㊀无源寻址驱动Fig.2㊀Passiveaddressingdriver
扫描ꎮ图2是无源寻址驱动的典型电路结构ꎬ当第x行和第y列选通时ꎬ其交点(xꎬy)处像素被点亮ꎮ使用无源寻址驱动方式对屏幕高速地逐点扫描ꎬ就可以实现全屏画面显示ꎮ无源寻址驱动方式结构简单且易实现ꎬ在设计和制备方面具有成本优势ꎮ图3是典型的无源寻址驱动阵列的剖面和三维结构示意图ꎮ
床垫十大品牌P m e
t a l N metal
A c t i v e r e
g i o n Insulating layer
ITO
P m e t a l
I n s u l a t i n g l a y e r N 鄄
G a N
S a p p
h i r e
滋LED
N metal
图3㊀无源寻址驱动阵列ꎮ(a)剖面图ꎻ(b)3D结构图ꎮFig.3㊀Passiveaddressingdriverarray.(a)Cross ̄sectional
structure.(b)3Dviewofthepassiveaddressing
driver.
3.2㊀有源寻址驱动(AM)
典型的有源寻址驱动[16 ̄18]方式一般是指采用金属键合工艺将μLED芯片倒装在驱动基板上(如CMOS)ꎬ每个像素的阴极通过共用N型GaN连接ꎬ阳极则与CMOS驱动基板金属键合ꎮ使用这种方式ꎬ每个像素都有独立的驱动电路ꎬ可以方便地单独寻址控制ꎮ有源寻址驱动方式中ꎬ经常使用两个晶体管一个电容(2T1C)驱动电路ꎬ如图
4所示ꎮ每个μLED的电流控制通过寻址晶体管T1㊁驱动晶体管T2和一个存储电容C实现ꎮ信号存储在电容中ꎬ使得像素器件处于保持状态ꎬ直至下一帧信号刷新ꎬ从而在整个周期产生所需的连续电流[12]ꎮ此处介绍2T1C结构是因为它是有源驱动的一种基本电路ꎬ简单且易实现ꎬ但其本质是电压控制电流源ꎬ而μLED是电流型器件ꎬ所以该电路较难控制显示灰度ꎮ更精细的设计ꎬ例如
4T2C电路ꎬ是一种电流控制电流源的电流比例型
1312㊀发㊀㊀光㊀㊀学㊀㊀报第41卷
驱动电路ꎬ对实现μLED的灰阶更有利ꎬ此处不详述ꎮ
LED
T2
V DD
C
T1
V scan
V data
图4㊀2T1C有源寻址驱动电路图Fig.4㊀Schematicofa2T1CAMdrivingcircuit教师节简短祝福
目前主要有整片转移和晶粒转移两种方式来组装有源寻址驱动μLEDꎮ整片转移方式是将外延片制成μLED阵列后ꎬ整体倒装在驱动基板上ꎬ但由于目前很难在同一基板上有选择地生长不同颜的μLEDꎬ所以很难实现全彩化ꎮ晶粒转移方式是将μLED衬底切割成单晶粒ꎬ通过巨量转移方式转移到驱动基板上ꎮ但是当前巨量转移技术还不成熟ꎬ所以组装成本较高ꎮ3.3㊀两种驱动方式对比
与无源寻址驱动方式相比ꎬ有源寻址驱动方式更适合应用在μLED器件中ꎬ它有着显著的优势ꎮ
虽然无源寻址驱动方式结构简单且易实现ꎬ但是也存在许多不足:它采用共行共列的电极ꎬ会产生较大的寄生电阻和电容ꎬ导致功耗大ꎻ驱动电压较高时ꎬ驱动电流从选定像素通过ꎬ但其周围像素也会受到电流影响ꎬ产生像素串扰ꎬ影响显示质量ꎻ由于外部集成电路的驱动能力有限ꎬ每个像素
的亮度受这一行或列中已经亮起像素的数量影响ꎬ当行或列亮起的像素个数不同时ꎬ施加到每个像素上的驱动电流不同ꎬ亮度产生差异ꎬ对于大面积的显示应用而言ꎬ会极大地影响屏幕亮度的均匀性及对比度ꎻ对于彩μLED阵列ꎬ单个像素中包含3种不同的μLEDꎬ每种μLED需要的驱动电压不同ꎬ需要更复杂的驱动电路ꎬ使得驱动的难度增大ꎮ图3为无源寻址驱动阵列剖面图和3D结构图ꎮ因为需要深刻蚀到衬底以确保每个μLED之间都是电学隔离的ꎬ所以电极经过深隔离槽时有可能会出现断裂ꎬ器件可靠性降低ꎬ并且这种结构使得发光单元的间距增大ꎬ像素密度受到影响ꎮ所以无源寻址驱动方式不是非常适合于大尺寸和超高分辨率的显示ꎮ
与此相反ꎬ对于有源寻址驱动方式ꎬ其驱动能力更强ꎬ驱动速度更快ꎬ所以更加适合大面积和高分辨率的μLED显示ꎻ有源寻址驱动方式无行列扫描损耗ꎬ功耗更小ꎬ效率更高ꎻ有源寻址驱动方式的亮度均匀性和对比度也较好ꎻ每个像素都有独立的驱动电路ꎬ被点亮像素不影响周围的像素ꎬ可以较好地解决串扰问题ꎮ
4㊀μLED巨量转移技术
μLED巨量转移技术主要是指将生长在外延
衬底上的μLED阵列快速精准地转移到驱动电路基板上ꎬ并与驱动电路之间形成良好的电气连接和机械固定的技术ꎬ也是当前限制μLED产业化的一个瓶颈技术ꎬ能否大量㊁快速㊁准确地转移μLED芯片到目标基板上决定着μLED是否能够真正实现量产ꎮ巨量转移技术在μLED显示中之所以十分必要ꎬ主要是由于以下几点:由于GaNμLED
表1㊀主要巨量转移技术Tab.1㊀Majormasstransfertechnologies
方法
主要机理
具体细节
流体自组装
重力和毛细管力
利用重力和毛细管力驱动悬浮在液体中的μLED到达指定位置ꎬ并与基板表面合金产生电气
连接ꎮ
范德华力
利用弹性印章和μLED之间的范德华力作用ꎬ将μLED转移到目标基板上ꎮ印章抓取磁力通过电磁力控制μLED芯片的吸取和放置ꎮ
静电力
印章头被介电层分开ꎬ形成一对分别带有正电和负电的硅电极ꎬ通过控制电极正负来抓取和放置芯片ꎮ
选择性释放激光剥离利用激光将μLED与原衬底之间的界面层分离ꎬ通过局部产生的机械力将μLED芯片推向目标衬底ꎮ滚轴转印
滚轴式印章
通过滚轮将TFT与μLED转移到目标衬底上ꎮ
㊀第10期严子雯ꎬ等:高度集成的μLED显示技术研究进展1313㊀外延片与GaN晶体管外延片结构差异很大ꎬ在
GaNμLED外延片上直接制备基于GaN晶体管的
驱动电路需要二次外延生长ꎬ工艺复杂且可靠性
较差ꎬ因此需要巨量转移μLED到另外的驱动衬
底上ꎻ为了实现可穿戴设备ꎬ需要将μLED转移到柔性或可拉伸衬底上ꎻ有时需要通过巨量转移技术来有选择地转移部分μLEDꎬ以匹配不同分辨率显示设备的像素间距ꎻ巨量转移技术可以用于实现μLED全彩化显示ꎬ亦即通过巨量转移技术分别将红绿蓝(RGB)三μLED晶粒转移到驱动电路基板上ꎬ以实现全彩化ꎻHISID器件中ꎬ也需要采用巨量转移技术加入非显示元件等ꎮ目前μLED巨量转移技术主要有流体自组装技术㊁印章抓取技术㊁选择性释放技术㊁滚轴转印技术等ꎮ
4.1㊀流体自组装技术(FSA)
流体自组装技术[19 ̄20]是通过重力和毛细管力驱动并捕获μLED至驱动电路基板的一种转移方式ꎮ自组装一般是在液体中进行ꎬμLED在液体中悬浮并在目标基板表面流动ꎬ到达被捕获的位置ꎬ与目标基板表面合金接触并与目标基板形成电气连接ꎮCho等[21]采用流体自组装方式ꎬ将圆形芯片㊁表面具有低熔点合金涂层的基板和组装溶液放入玻璃小瓶ꎬ加热并振荡ꎬ芯片在流动时被低熔点合金捕获并与基板形成电气连接ꎬ在
1min内将19000多块直径为45μm的蓝μLED组装在基板上ꎬ成功率达99.9%ꎮ
4.2㊀印章抓取技术
印章抓取技术是指通过范德华力㊁磁力或者静电力将μLED芯片黏附在转移用的印章上ꎬ然后放置在目标基板上[22]ꎮX ̄Celeprint[23]在2015年提出一种弹性印章技术ꎬ如图5所示ꎬ弹性印章一般由聚二甲基硅氧烷(PDMS)为载体ꎮ为了使μLED芯片更好地被印章抓取并脱离原基板ꎬ在制备μLED过程中加入一层牺牲层ꎬ去除牺牲层后ꎬμLED器件与原基板中间有一部分镂空ꎮ印章和器件之间通过范德华力结合ꎬ提起印章将使器件与原基板镂空处的连接断裂ꎬ并按原有阵列排布的格局转移到印章上ꎬ良率大于99.9%ꎮITRI提出将μLED中混入铁钴镍等材料ꎬ通过电磁力控制芯片抓取ꎮLuxVue[24]提出采用静电力抓取芯片ꎬ通过对印章施加正负电压来控制μLED的抓取和放置ꎮNative substrate with滋LED devices
Elastomer stamp(PDMS)
Devices are transferred onto stamp
Devices are printed onto target substrate
图5㊀印章抓取技术示意图
Fig.5㊀Illustrationofthestamp ̄basedpick&placetech ̄nique
4.3㊀选择性释放技术
选择性释放技术[25]是使用激光束将μLED从衬底上剥离ꎬ然后再转移到目标基板上ꎮ如图6所示ꎬ在激光照射下ꎬ原始衬底与μLED的界面处发生反应ꎬ分解界面层ꎬμLED脱离衬底ꎬ同时有局部的机械力将μLED推向目标基板ꎮ目前有报道使用大规模并行激光转移技术ꎬ实现了每小时1亿次以上的转移效率ꎮ
Thin film
Laser source
Beam shaping
Donor
substrate
Receiver
substrate
你现在哪里 我每天都在想你图6㊀选择性释放技术示意图
Fig.6㊀Illustrationofthelaser ̄inducedforwardtransfer4.4㊀滚轴转印技术
滚轴转印技术[26]是由韩国KIMM提出的一种μLED转移方式ꎬ可以用于转移厚度小于10μm㊁尺寸小于100μm的μLED芯片ꎮ这个方法可以用于柔性㊁可拉伸和轻量级的显示设备ꎬ转移速率高达每秒10000个ꎮ如图7所示ꎬ首先利用涂覆一次性转移膜的滚轮将TFT阵列拾取并放置在临时基板上ꎻ然后将μLED用同样的方法拾取放置在有TFT的临时基板上ꎬ与TFT焊接ꎻ最后ꎬ将μLED和TFT互联阵列滚动转移到目标衬底上ꎮ

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