光学元件合格检验
问题:当对一个光学元件进行合格检验时,你需要重点关注的测试对象都有哪些?
答:首先可以将光学元件分为平面元件、球面元件和非球面元件,下面将分类来讨论。母亲节送什么鲜花
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一、 平面元件
角偏差测量:分为棱镜角度的角偏差测量、楔形平板测量、数字波面干涉仪测量元件角偏差。
面形偏差测量:主要包括半径偏差、像散偏差和局部偏差。此三个指标统称为光圈公差,光圈公差的作用是度量表面与其检验样板的偏离,它保证了一批产品的一致性。通常采用干涉仪对面形偏差进行检测,为提高检测精度,可用多通道或多光束干涉法。
光学平行度测量:可采用双像法或干涉法测量光学平行度。
二、 球面元件
温泉度假曲率半径测量:实质上属于面形偏差的检测范畴,因为在检测面形偏差时,往往也可测出曲率半径。
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测量球面曲率半径的方法:有球径仪法、自准直法、牛顿环法和干涉法。
面形偏差检测:通常采用球面干涉仪检测球面光学元件的面形偏差,球面干涉仪一般有正置、倒置和水平放置三种。爱情公寓 张伟
三、 非球面元件
面形测试:常用方法有几何光线检测法、探针式轮廓法、干涉法。
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参考文献:
苏俊宏, 田爱玲, 杨利红. 现代光学测试技术[M]. 科学出版社, 2013.

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